La spettroscopia XRF (X-ray fluorescence spectroscopy O X-ray fluorescence) è una tecnica di analisi non distruttiva che trova applicazioni in diversi settori da quello ambientale ed alimentare sino ai controlli di composizione di prodotti ed analisi di superfici per l’industria metallurgica. Questa tecnica permette di conoscere la composizione degli elementi di un campione attraverso la quantificazione della radiazione di fluorescenza emessa. Tale radiazione è rilasciata dagli atomi del campione in seguito a eccitazione, che si ottiene tipicamente irraggiando il campione con raggi X ad alta energia.

Tra i principali composti determinabili di routine ci sono gli ossidi di diversi metalli tra cui: SiO2, TiO2, Al2O3, Fe2O3, MnO, MgO, CaO, Na2O, K2O, P2O5 (espressi in percentuale %).
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